Спектрометр Flame UV-Vis ATP2400

Описание:

После 20 лет опыта в разработке волоконно-оптических спектрометров Optosky выпустила новое поколение высокопроизводительных ультратонких волоконных спектрометров: ATP2400, который имеет встроенные схемы управления импульсной ксеноновой лампой, использует высокочувствительную линейную КМОП-матрицу и специально настроенные схемы обработки сигналов CMOS со сверхнизким уровнем шума, что значительно снижает уровень шума датчика, достигается соотношение сигнал / шум (примерно в два раза выше, чем у аналогичных конкурентов), а также повышается надежность измерений ATP2400. Результаты измерений не меняются в зависимости от температуры окружающей среды, что является лучшим уровнем в отрасли.
Спектрометр ATP2400 может принимать свет на входе волокна SMA905 или в свободном пространстве и выводить спектральные данные, измеренные через порты USB2.0 или UART.
Спектрометру ATP2400 требуется только источник питания 5 В постоянного тока или USB, который очень легко интегрировать.

Характеристики：

• Минимальный, ультратонкий, сверхлегкий вес minim;
• Оптоволоконный вход и выходной сигнал находятся на одной стороне, что очень легко интегрировать.
• Детектор: линейный CMOS
• Пиксель детектора: 2048 пикселей
• Схема обработки сигналов CMOS со сверхнизким уровнем шума
• Максимальный спектральный интервал: 910 нм (спектральный диапазон 180-1100 нм)
• Спектральное разрешение: 0,1-3 нм (в зависимости от спектрального диапазона, ширины щели)
• Оптическая конструкция: cross-C-T
• Встроенный в спектрометр драйвер импульсной ксеноновой лампы
• Время интеграции: 5uс- 256 секунд
• Источник питания Vinner: 5 В постоянного тока ± 10% или USB-источник питания
• 16-разрядный АЦП с частотой 2 МГц
• Интерфейс ввода спектрометра: SMA905 или свободное пространство
• Поддерживаемый интерфейс вывода данных: USB 2.0 (высокоскоростной) или UART
• 20-контактный двухрядный программируемый внешний интерфейс расширения

Применение:

• Оборудование для защиты окружающей среды (дымовые газы, качество воды);
• Определение спектра отражения и пропускания;
• Спектральный анализ, радиационно-спектроскопический анализ, спектрофотометрический анализ;
• Измерение длины волны лазера.