Атомно-силовой микроскоп

Атомно-силовой микроскоп (АСМ / AFM)  — сканирующий зондовый микроскоп высокого разрешения, используется для определения рельефа поверхности с высоким разрешением от десятков ангстрем вплоть до атомарного, позволяет исследовать как проводящие, так и непроводящие поверхности. Для определения рельефа поверхностей образцов используется луч лазера направляемый на внешнюю поверхность кантилевера, отражается и попадает на фотодетектор. Такой метод регистрации отклонения кантилевера реализован в большинстве современных атомно-силовых микроскопах.

  • Фильтры
  • а
  • б
  • в
  • г
  • д
  • е
  • ё
  • ж
  • з
  • и
  • й
  • к
  • л
  • м
  • н
  • о
  • п
  • р
  • с
  • т
  • у
  • ф
  • х
  • ц
  • ч
  • ш
  • щ
  • э
  • ю
  • я

P300 АСМ является модульной системой высокой архитектуры, которая может приспособиться к различным экспериментальным задачам. Сканер может быть легко заменен, позволяя пользователю изменять сканеры, в зависимости от их применения. Модель P300 АСМ использует открытую архитектуру для пользователей, заинтересованных в добавлении собственных экспериментальных задач. В комплекте с Р300 поставляется интуитивно понятное управляющее программное обеспечение, которое позволяет пользователю проводить эксперименты с минимальной подготовкой. 

Атомно силовой микроскоп P100/P150 обладает возможностью проводить сканирование образцов с субнанометровым разрешением по оси Z , микроскоп P100 / P150 может быть использован для получения и анализа изображений с высокой разрешающей способностью. Интегрированный сканер с низким уровнем шума и с открытым контуром позволяет быстро и эффективно проводить эксперименты на 15 х 15 мкм, 20 х 20 мкм, 25 х 25 мкм, и др.