• Фильтры

DF-5713 Анализатор представляет собой полностью автоматизированный аналитический комплекс, предназначенный для непрерывного рентгенофлуоресцентного анализа содержания пульп и растворов в потоке. обладают непревзойденной чувствительностью и самым коротким временем цикла при управлении всеми технологическими процессами на обогатительных фабриках

Категория: Толщиномеры
Производитель: ISP Co., Ltd

Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Многослойная широкая печатная плата
Перемещение 200 мм X 250 мм X 14 мм / 500 мм X 500 мм X 14 мм
Размер сцены 473 мм X 525 мм / 520 мм X 520 мм

Категория: Толщиномеры
Производитель: ISP Co., Ltd

Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Твердое / жидкое / порошковое, многослойное
Размер камеры для образцов 660 мм X 450 мм X 150 мм / 500 мм X 450 мм X 150 мм
Возможное расстояние перемещения предметного столика 300 мм X 200 мм X 150 мм / 220 мм X 200 мм X 150 мм

Категория: Толщиномеры
Производитель: ISP Co., Ltd

Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Широкая печатная плата
Размер оборудования 2600 X 1350 X 2050 мм (Ш x Г x В)
415 X 510 мм PCB / 810 X 610 мм PCB
Измеряемый размер печатной платы 415X510 мм 610X510 мм 810X610 мм (Ш × Г)
Коллиматор Поликапиллярная оптика (Focal Spot 15um / 30um) FWHM

Категория: Толщиномеры
Производитель: ISP Co., Ltd

Элемент обнаружения Ti (22) ~ U (92)
Тип образца Твердое / жидкое / порошковое, многослойное
Размер камеры для образцов 660 мм X 450 мм X 150 мм / 500 мм X 450 мм X 150 мм
Измерение толщины многослойных тонких пленок (до 5 слоев)

DF-5738 Прямоточный рентгенофлуоресцентный анализатор является поточным прибором для измерения состава многоэлементов в одном канале. Поточный рентгенофлуоресцентный анализатор предназначен для анализа в реальном времени видов и содержаний различных химических элементов
пульпы в процессе промышленного производства. Исключая сложные процессы обработки образца, прибор проводит непосредственный анализ пульпы, быстро выдает результат анализа. Имеется возможность напрямую задействовать прибор в комплексной автоматизации производственного
процесса.

Потокоый рентгенофлуоресцентный анализатор (далее –анализатор) предназначен непрерывного рентгенофлуоресцентного анализа в потоке пульпы технологических процессов переработки руд в реальном времени. Исключая сложные процессы обработки образца, прибор проводит непосредственно анализ пульпы, быстро выдает результат анализа. Имеется возможность напрямую задействовать прибор в комплексной автоматизации производственного процесса.

RoHS анализатор вредных элементов на технологии XRF позволит быстро идентицифицировать материалы на соответствие RoHS директиве.

Энергодисперсионный рентгеновский флуоресцентный спектрометр XD-8010  имеет уникально разработанный оптический путь, который минимизирует расстояния между источником рентгеновского излучения, образцом и детектором, сохраняя при этом гибкость для переключения между различными фильтрами и коллиматорами. Это значительно повышает чувствительность и снижает предел обнаружения.

Анализ толщины покрытий, напылений. Точность до 10 нм, до 11 слоев. Элементный анализ. Thick8000 специально разработан для быстрого и неразрушающего анализа толщины напыления и полного элементного анализа. В Thick8000 реализована облегченная структура, 3D платформа для образцов и лазерная система позиционирования, которая позволяет осуществлять поточечное определение толщины напыления и элементного анализа образцов большого размера. Защитная стеклянная пластина предотвращает влияние рентгенофлуоресцентного излучения оператора.

Анализ толщины покрытий, напылений. Точность до 10 нм, до 11 слоев. Thick800A специально разработан для быстрого и неразрушающего анализа толщины напыления . В Thick800A реализована облегченная структура, 3D платформа для образцов и лазерная система позиционирования, которая позволяет осуществлять поточечное определение толщины напыления. Защитная стеклянная пластина предотвращает влияние рентгенофлуоресцентного излучения оператора.

Промышленный поточный анализатор для анализа жидких смесей, суспензий, пульпы, шлама, бетона, цемента в потоке для измерений концентраций, контроля качества продукции и сырья в таких областях как цветная и черная металлургия, геология, переработка полезных ископаемых и другие.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 6000B используется в полном элементном анализе, научно-исследовательской работе, количественном и качественном анализе вещества, рутинных исследованиях, обладает высоким разрешением, турелью для возможности последовательного анализа нескольких образцов (до 8ми). Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P.

Специальная оптическая схема с использованием вторично отраженных фотоэлектронов улушает сиоотношение сигнал-шум, позволяет добиваться более низких пределов обнаружения, что делает возможным анализ следовых элементов. Специализированная система охлаждения делает инструмент более надежным а результаты более воспроизводимыми. Вакуумная система делает возможным точный анализ легких элементов: Na, Mg, Al, Si, P.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр позволяет проводить высокочувствительный РФА анализ следов элементов, вредных примесей, тяжелых металлов, позволяя анализировать следы элементов концентрациями до 0.1 ppm, используя специальную технологию облучения образца вторичными фотоэлектронами.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3600H используется в полном элементном анализе, научно-исследовательской работе, количественном и качественном анализе вещества, рутинных исследованиях, обладает высоким разрешением, большой камерой.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3600L обладает большой камерой, примененяется в археологии для анализа больших образцов. Прибор EDX3600L разработан Skyray чтобы измерить содержание Na2O, MgO, Al2O3, CaO, Fe2O3, K2O, MnO, SiO 2, TiO 2, As, Cr, Cu, Co, Mn, Ni, Pb, Ti, V, Zn, Zr, Ba в археологических образцах, красках и покрытиях на древней керамике и фарфоре. 

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3600B используется в полном элементном анализе, научно-исследовательской работе, обладает высоким разрешением, большой камерой. Особенности технологии низкоэнергетических рентгеновских лучей с хорошими результатами возбуждения легких элементов, таких как Si, S, Na и Mg, широко используются в спектрометрии.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3600 используется в научных исследованиях, количественном и качественном анализе вещества, рутинных исследованиях.

Анализатор пищевых продуктов и растений EDX 3200S PLUS X быстрый спектральный анализатор, предназначен для быстрого обнаружения следов тяжелых металлов и вредных элементов в продуктах питания с помощью технологии рентгеновской флуоресценции (EDXRF) с использованием наиболее современных детекторов и источников возбуждения и других аппаратных конфигураций и позволяет достичь нижнего предела обнаружения в 0.1 ppm.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3200S PLUS XRF используется для анализа серы в нефти и нефтепродуктах. Анализ примесей в нефтепродуктах, элементный анализ любых жидкостей, анализ продуктов трения в смазочных маслах.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3000D XRF. Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 3000D удобен для анализа благородных, тяжелых, вредных металлов в электронных платах, ювелирных украшениях, ювелирном ломе, плоских образцах.

EDX3000 создан с учетом многолетнего опыта Skyray в анализах и тестированиях драгоценных благородных металлов, золота, серебра, платины, палладия, цинка, меди и др. Прибор обладает простой но уникальной конфигурацией и функциональным программным обеспечением. Его эргономичный дизайн и дружелюбный интерфейс программного обеспечения предоставляют пользователям простое и надежное средство для измерений.

Анализатор спектрометр EDX 1800B создан для полного элементного анализа. Возможности спектрометра позволяют решать широкий круг задач в различных отраслях промышленности: анализ драгоценных металлов таких как (Au, Ag Pt, Pd, и других), анализ тяжелых металлов, анализ вредных элементов, стали, сплавов, анализа цемента и также анализ толщины напыления, данный рентгенофлуоресцентный спектрометр позволяет проводить полный элементный анализ и анализ RoHS (Cd, Pb, Cr, Hg, Br), а также анализ золота по ГОСТ 27973.0-88 или анализ серебра по ГОСТ 28353.0-89. 

Тестер золота анализатор спектрометр SMART 100 включает в себя многолетний опыт Skyray в тестировании драгоценных металлов с детектором нового поколения и многоканальной технологии, реализовывая высокую скорость счета и точно анализировывая драгоценные металлы. Кроме того, он оснащен подвижной 2D платформой и HD промышленной камерой, чтобы достичь точное позиционирование образца. (Это позволяет очень эффективно анализировать 99,99% чистого золота).

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 880 XRF специализированный анализатор благородных металлов для тестирования внутренних стенок ювелирных украшений.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 600B XRF. Спектрометр рентгенофлуоресцентный высокочувствительный EDX600B для анализа ценных металлов в металлах, рудах и продуктах их переработки.

Рентгенофлуоресцентный спектрометр EDX 600 XRF. Специально создан для определения элементов Au Ag Cu Zn Ni Pd Pt Rh Cd Ru в ювелирных изделиях. Рентгенофлуоресцентный спектрометр анализатор золота и ценных металлов EDX 600 также может измерять толщины слоев напылений и покрытий. Бюджетная модель для ломбардов. 

Уникальный портативный Cube 100 РФА спектрометр предназначен для удовлетворения требований клиентов для измерения концентраций золота, серебра, платины и других элементов внутри драгоценных металлических изделий, а также с возможностью анализа внутренних стенок ювелирных изделий. Используя SDD детектор высокого разрешения или детектор Si-PIN, Cube 100 может анализировать Au, Ag, Pt, Pd, Zn, Ni, Ir и другие элементы. В то же время, он может проверить элементы от серы до урана. Результаты испытаний полностью отвечают требованиям национального стандарта 18043-2013 GB / T. Компактный дизайн Cube 100 делает тестирование драгоценных металлов гораздо проще благодаря небольшму размеру, малому весу, легкостью переноски с собой и интеллектуального программного обеспечения для проведения операций элементного анализа.