Каталог оборудования


Рентгеновский дифрактометр Advan XRD Pro

Дифрактометр AdvanXRD Pro является общей системой построенной на использовании дифракции рентгеновских лучей. Прибор имеет различные конфигурации рентгеновской оптики для различных экспериментальных требований. Дифрактометр AdvanXRD Pro оснащен двумя детекторами, стандартным сцинтилляционным детектором и детектором скорости. Прибор позвояет проводить очень быстрое сканирование для идентификации простых по составу порошков, а также длительное сканирование, как правило, необходимое для анализа сложных смешанных фаз, с высоким разрешением, идентификации микропримесей. Возможны два режима сканирования, непрерывный режим сканирования, который объединяет счет на небольшом угловом диапазоне (быстрое сканирование), и шаговый режим сканирования, который используется для медленного сканирования и любой точной работы.

Спецификация



  • Высокостабильный генератор рентгеновского излучения с длительным сроком службы.
    • Максимальная выходная мощность 3 кВт (4кВт)
    • Максимальное выходное напряжение 15-60 кВ
    • Максимальный выходной ток 6-80 мА
    • Минимальный шаг изменения напряжения 1 кВ
    • Минимальный шаг изменения силы тока 1 мА
    • Стабильность <0.01 %
    • Кабель высокого напряжения 100 кВ, длина 2 м.
    • Защитные схемы и сигнальные индикаторы:
      • КВ высоко и низко защитные схемы.
      • Схемы защиты от перегрузок, 6 видов: 0.35kW, 0.7kW, 1.0kW, 1.5kW, 2.0kW, 2.7kW Six Grade
      • Защитные схемы от перегрузки линий: 20A
      • Индикаторы водяной системы охлаждения.
      • Радиационная защита с предохранительным механизмом.
  • Рентгеновская трубка с длительным сроком службы
    • Материал анода: медь, NF модель
    • Максимальная мощность: 2.0 кВт
    • Фокус: 1мм x 10 мм
    • Перестройка фокуса: линия / точка
  • Гониометр
    • Тип: Вертикальный (&Theta-2&Theta); (&Theta-&Theta)
    • Радиус гониометра: 180 мм (перестраиваемый 150-285 мм)
    • Диапазон измерения: -30 °~ + 160° (2Θ)
      -30 °~ + 88° (Θs)
      -30 ° ~ + 160° (Θd)
    • Режимы сканирования:
      (Θ-2Θ) связанный
      Θ,2Θ независимый
      Θs-Θd связанный режим
      Θ, 2Θ независимый режим
    • Режимы работы: Непрерывное сканирование, ГРМ Шаг сканирования, постоянный шаг сканирования
    • Диапазон скорости сканирования: 0/125°-120°/мин
    • Минимальный шаг: 0.00025°
    • Воспроизводимость: 0.0006°
    • Точность: 0.001°
    • Щели: Щель расходимости: 1/6 ° 1/2 ° 1 ° 2 °
      Приемная щель: 0.1, 0.15, 0.3, 0.45, 0.6, 1.0, 2.0 мм
      анти-рассеивающие щели: 1/2 ° 1 ° 2 °
      нулевая щель: 0.02 мм
      Диафрагма Соллера: два набора
    • Фильтр: Ni
  • Детектор
    • Тип: Сцинтилляционный счетчик
    • Кристалл: NaI.
    • Максимальная линейная скорость счета: 500,000 counts/s
    • Максимальный уровень шума: <1 counts/s.
  • PHA система
    • Линейный усилитель
      • Усиление 5-100, для настройки бинарными степенями.
      • Стабильность прироста: <±0.3%.
      • Нелинейный коэффициент искажения: 0.1-10В.
      • Уровень шума, преобразовываемый на вход (стандартное отклонение): <15 µV
    • Анализатор высоты пульса
      • Уровень: 0.1-10В
      • Туннель: 50мВ-5В
      • Стабильность: дрейф < 15 милливольт для уровня и <15 милливольт для туннеля в течение 8 часов.
      • Время различения: 1 µs.
  • Программное обеспечение
    • MSAL XD Операционная система.
      • Измерение дифракционной линии.
      • Подсчет за определенное время.
      • Время определенного счета.
      • Поворот гониометра.
      • Шаг гониометра вперед/назад.
      • Выравнивание гониометра.
      • Верификация Θ-Θ.
    • Обработка дифрактограммы.
      • Редактирование, показ и заговор образца дифракции.
      • Поиск пиков.
      • Измерение области пиков и анализ отдельного пика.
      • Устранение фона.
      • Сглаживание.
      • Сжатие образцов.
      • Обработка данных
      • Основные физические и химические константы.
      • Периодическая таблица элементов.

      • Основные физические свойства и кристаллические структуры элементов.
      • Показатели поглощения на единицу массы для элементов.
      • Вычисление 2Θ от d; вычисление d от 2Θ.
      • Reference intensity rate K.
      • К параметры характеристических спектров элементов.
  • Аналитический блок
    • Качественный анализ (поиск/выявление),
    • Количественный анализ.
    • Индекс,уровень дифракционной линии
    • Уточнение параметров кристаллической решетки
    • Множественное разделение пиков.
    • Выделение KΑ2.
  • Замкнутая система охлаждения
    • Максимальное давление воды: 0.7MPa
    • Контроль температуры.
  • Монохроматор дифрагированного пучка с дуговым графитовым кристаллом
    • Радиус графита: 224 мм
    • Отражающая способность >28%
  • Высокотемпературная камера
    • Температура до 1200 С
    • Программный контроль

Вспомогательное оборудование

Подставки для образцов Графитовый монохроматор с изогнутым кристаллом Ручная дробилка
Агатовая ступка Вращающаяся платформа для образцов Мембрана параллельного пучка
Высокотемпературная камера Сканирующий модуль Модуль контроля температуры охлаждающей жидкости

Аналитика и получение данных

С помощью дифрактометра может быть изучена и идентифицирован состав и структура материалов. С помощью рентгеновского порошкового дифрактометра могут быть осуществлены следующие аналитические задачи.

  1. Структурный анализ: могут быть определено устройство всех видов соединений атомов в материалах.
  2. Качественный и количественный фазовый анализ.
  3. Может быть определено соотношение всех составных соединений.
  4. Определить размер зерен материала, стресс, текстуру, ориентацию и способность к кристаллизации.

Описание процесса анализа



Настройка параметров тестирования
Настройка рентгеновской трубки Настройка параметров сканирования
Настройка параметров сканирования 2 Измерение интенсивности

Примеры применения: Анализ молекулярных сит

A, Y, ZSM другие типы молекулярных сит.
  1. Качественный и количественный фазовый анализ.
  2. Может быть определено соотношение всех видов соединений . Например Отношение Si-Al.
  3. Определение размера зерна, параметров ячейки, и т.д. кристалличности
Качественный анализ




Параметры ячейки




Кристалличность




Поиск Пиков




Размер зерна




Примеры применения: Анализ аккумуляторных батарей

Типы аккумуляторов: Литиевые, свинцовые, NI-MH батареи, другие типы батарей; Материал батареи: например графит.
  1. Качественный и количественный фазовый анализ.
  2. Степень графитизации.
Качественный анализ свинцовой батареи




Качественный анализ NI-MH аккумуляторов




FWHM (свинцовый аккумулятор)




Степень графитизации




Яндекс.Метрика